问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。

　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。

　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。

　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3

1 0 1

0 1 0

1 0 1

样例输出

1 3

 

思路：此题重在好芯片比坏芯片多的这句话，只要循环用每个芯片以此对该芯片进行测试，0出现的次数大于n/2证明是坏芯片，如果1出现的次数大于n/2证明是好芯片

package www.tsinsen.com;import java.util.ArrayList;import java.util.Scanner;public class A1058 {    /**     * @param args     */    public static void main(String[] args) {        // TODO Auto-generated method stub        Scanner scan=new Scanner(System.in);        int n=scan.nextInt();        int[][] arr=new int[n][n];        for(int i=0;i
      
        list=new ArrayList
       
        ();        for(int i=0;i
        
         n/2){                list.add(i+1);            }                    }        for(int i=0;i